EDX600XRF光譜無損鍍層測(cè)試儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位，滿足貴金屬的成分檢測(cè)的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

國(guó)產(chǎn)XRF光譜無損XU-100鍍層測(cè)試儀性能優(yōu)勢(shì) 

專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)

智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

國(guó)產(chǎn)XRF光譜無損XU-100鍍層測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo) 

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）

測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末

分析檢出限可達(dá)：1ppm

分析含量一般為：1ppm到99.9%

多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1%

長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1%

外觀尺寸：430×380×355mm 

樣品腔尺寸：306×260×78mm 

重量：40kg

標(biāo)準(zhǔn)配置 

單樣品腔。

正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器

信號(hào)檢測(cè)電子電路

高低壓電源

X光管

應(yīng)用領(lǐng)域

XRF光譜無損鍍層測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)