鍍金厚度膜厚測試儀XD-1000性能特點

鍍金厚度膜厚測試儀 采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

鍍金厚度膜厚測試儀XD-1000參數(shù)規(guī)格

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。
型號：XD-1000

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

鍍金厚度膜厚測試儀同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：100kg

產(chǎn)品用途

鍍金厚度膜厚測試儀廣泛應用于線路板、電子連接器、電子電器、螺栓和螺母、衛(wèi)浴、五金端子板材、表面處理材料、汽車配件、五金工具、彈簧、螺絲、半導體封裝材料等產(chǎn)品。

配件

開放式樣品腔。

高低壓電源。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機
雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。